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株式会社検査技術研究所

広帯域水浸探触子(フラット・フォーカス)BSI

  • 広帯域水浸探触子(フラット・フォーカス)BSI0

用途

広帯域水浸探触子(フラット・フォーカス)BSIの用途は以下の通り

1、超音波探傷試験における一振動子を用いた水浸探傷の際に使用する水浸探触子
 ・超音波探傷試験とはパルス発信器から発生した超音波パルスを探触子から発信し、その一部が内部の欠陥に
  反射され、その反射波が探触子に受信されて高周波電圧に変換し、その後、受信器に表示する
  ことにより、欠陥の存在位置及び大きさの程度を知る検査である。
 ・金属材料と非金属材料で使用が可能であり、また表面の欠陥も検知できる。

名称 型式 接栓 外形寸法(mm)
φ×H
種類 位置
BSI 1C20I MR
UHFR
MDR
34×52
1C30I 44×52
1K20I 34×52
1K30I 44×52
2C6I  
2C10I 26×52
2C20I 34×52
2C30I 44×52
2K6I  
2K10I 26×52
2K20I 34×52
2K30I 44×52
5C6I  
5C10I 26×52
5K6I  
5K10I 26×52
10C6I  
10C10I 26×52
10K6I  
10K10I 26×52
15C6I  
15K6I  

2、その他の検査技術研究所製、水浸探触子へのリンク
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超小型水浸探触子 MI
超薄型水浸探触子 PI
水浸探触子(フラット・フォーカス) SI
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