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株式会社検査技術研究所

遅延材付広帯域垂直探触子 BAN

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用途

遅延材付広帯域垂直探触子 BANの用途は以下の通り

1、超音波探傷試験における一振動子を用いた垂直探傷の際に使用する垂直探触子
 ・超音波探傷試験とはパルス発信器から発生した超音波パルスを探触子から発信し、その一部が内部の欠陥に
  反射され、その反射波が探触子に受信されて高周波電圧に変換し、その後、受信器に表示する
  ことにより、欠陥の存在位置及び大きさの程度を知る検査である。
 ・金属材料と非金属材料で使用が可能であり、また表面の欠陥も検知できる。

名称 型式 接栓   外形寸法(mm)
φ×H
種類 位置
BAN 5C6N MDR 横、上 14×34
5K6N 14×34
10C3N 12×23.5
10C4N 12×23.5
10C6N 14×34
10K3N 12×23.5
10K4N 12×23.5
10K6N 14×34
15C3N 12×23.5
15C4N 12×23.5
15C6N 14×34
15K3N 12×23.5
15K4N 12×23.5
15K6N 14×34


2、その他の検査技術研究所(KGK)製、垂直探触子へのリンク
※名称をクリック頂ければ詳細ページへ飛びます
超小型垂直探触子 MM 
超薄型垂直探触子 PN
硬質板付小型垂直探触子 MX
標準垂直探触子 MN
軟質保護膜付垂直探触子 SN
横波垂直探触子 NY
箱型垂直探触子 BN
広帯域垂直探触子 BMN
遅延材付広帯域垂直探触子 BAN

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