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株式会社検査技術研究所

二振動子垂直探触子 MD

  • 二振動子垂直探触子 MD0

用途

二振動子垂直探触子 MDの用途は以下の通り

1、超音波探傷試験における二振動子を用いた垂直探傷の際に使用する二振動子垂直探触子
 ・超音波探傷試験とはパルス発信器から発生した超音波パルスを探触子から発信し、その一部が内部の
  欠陥に反射され、その反射波が探触子に受信されて高周波電圧に変換し、その後、受信器に表示する
  ことにより、欠陥の存在位置及び大きさの程度を知る検査である。
 ・金属材料と非金属材料で使用が可能であり、また表面の欠陥も検知できる。

名称 型式 接栓 外形寸法(mm)
φ×H
種類 位置
MD 2C10/2ND FR
GR
横 24×42
2C20/2ND 30×47
2K10/2ND 24×42
2K20/2ND 30×47
5C10/2ND 24×42
5C20/2ND 30×47
5C3×20ND 11×15
5K10/2ND 25×20×30
5K20/2ND 30×47
5K3×20ND 25×20×30
※5C3×20NDはJIS G 0801に規定されている二振動子探触子です

2、その他の検査技術研究所製、二振動子垂直探触子へのリンク
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・二振動子垂直探触子 UD
・二振動子垂直探触子 MD


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