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ダコタ・ジャパン

超音波厚さ計　CMX DL

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用途

・非破壊での厚さ測定用の超音波厚さ計です。

特長

・膜厚測定モード、パルスエコーwith膜厚測定モード搭載

・温度変化による測定誤差を自動的に補正するパルスエコーwith温度補正モード搭載

・Bスコープ機能

・探触子自動認識

・自動零点校正機能

・データロガ機能搭載

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